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研發(fā)測試工程師不可忽視的探頭選擇,隨附超2000種選型目錄

2021-03-10 18:23:04
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中組件和系統(tǒng)的測試和診斷帶來了許多特殊的挑戰(zhàn)。有時很難連接所需的準(zhǔn)確測試點(diǎn)。高密度、多層電路板和帶有小引腳的密集元件使得電壓表的檢測非常困難。當(dāng)系統(tǒng)運(yùn)行時,輕輕滑動探頭可能會導(dǎo)致災(zāi)難性短路。測試和測量的目的是發(fā)現(xiàn)和修復(fù)問題,避免造成更嚴(yán)重的損害。
這個問題有很多解決方法。接下來,我們將討論一些可用于檢查安裝在電路板上的設(shè)備和組件的方法。
單點(diǎn)探針是最常見和最明顯的檢測方法。大多數(shù)數(shù)字萬用表(DMM)提供一組測試線,這對各種測試場景非常有用。這種類型的探頭非常適合檢查電源電壓或檢查備用電池。然而,這些探針中的大多數(shù)對于高密度電路板來說太大了。這些探針很容易滑動、損壞其他部件或?qū)е露搪?。這個DMM探頭上的探頭直徑一般在0.080”左右,接觸不尖銳。另外,由于日常磨損,探頭是圓形的,這幾乎是不可能完成的任務(wù)。這些探針可以削尖,但如果沒有外部涂層,底層金屬很容易迅速變色。
連接高密度電路板上的小接觸點(diǎn)的最好方法是使用非常鋒利的探針。雖然針尖探頭容易損壞,但由于缺乏涂層,很容易重新銳化。許多制造商為探針提供易于更換的尖端探針。不銹鋼尖端探針的初始直徑為0.080英寸,并逐漸變細(xì)以形成極尖。另一個探頭從直徑為0.040”的不銹鋼開始,逐漸形成一個長而尖的探頭。這種探頭也適用于狹小的空間,而且鋒利不易滑落。
另一種多用途工具是帶有伸縮探針的探針。這些探針由直徑非常小(0.040’)的不銹鋼絲制成,除了探針的最末端,通常覆蓋有絕緣層,可以防止意外接觸。有了這樣的探頭,探頭的范圍可以擴(kuò)大到3英寸。細(xì)長探頭除了用于難以到達(dá)的測試點(diǎn)外,還有利于提高測試點(diǎn)的可視性。
不銹鋼是制造尖銳觸點(diǎn)的好材料,但它是電導(dǎo)體的壞選擇。此外,重復(fù)研磨后,探頭可能會磨損,變得太短,無法檢測狹窄的空間。新探頭當(dāng)然可以更換,但還是不能解決不銹鋼固有電阻的問題。這個問題是有解決辦法的。精密電子探針采用標(biāo)準(zhǔn)自動測試設(shè)備(ATE)探針,因其探針而常被稱為“彈簧針”。這種彈簧針有多種配置,可以隨時使用。事實(shí)上,許多用戶可能已經(jīng)在他們的生產(chǎn)測試領(lǐng)域找到了這種探針。這種探頭不僅有可更換的探頭,而且非常小,足以穿透比全尺寸探頭更窄的空間。
目前很多公司提供帶有微型線鉤和引腳的IC測試夾,非常薄,適合一些最小的元器件引腳。這些線鉤測試夾可以以3毫米的焊接間距連接到QFP封裝中的元件。甚至多達(dá)5或6個測試夾可以并排連接到相鄰的0.5毫米芯片引腳。只要不需要同時連接太多引腳,這些測試夾就是滿足要求的完美選擇。
IC測試夾是測試IC芯片上大量引腳的理想解決方案,也非常適合在眾多引腳中尋找一個引腳。當(dāng)引腳較多時,很容易混淆芯片一側(cè)的引腳號。使用IC測試夾具,可以在不損壞芯片的情況下,可靠地連接多個待測芯片引腳。集成電路測試夾具適用于從DIP到QFP的大多數(shù)芯片封裝。
集成電路測試夾具還解決了許多其他問題。如果你需要連接QFP芯片的所有引腳呢?當(dāng)然,你可以把短引線焊接到每個芯片引腳上,然后用上面提到的小掛鉤把引線連接起來。這是完全可能的,但是將這些微小的導(dǎo)線焊接到芯片上需要花費(fèi)大量的時間。另外,如何解釋微處理器上的新“毛”?那么,如何連接到芯片呢?答案是IC測試夾具有一個適合大多數(shù)主流IC芯片的IC測試夾具。這些測試夾適合安裝在芯片頂部,每個芯片引腳都有一個接觸點(diǎn)。測試夾還有一組編號的觸針,支持與邏輯分析儀或示波器的大量連接。
大多數(shù)人很少關(guān)注測試線,直到為時已晚。那么我們需要了解哪些關(guān)于檢測線和探針的信息呢?最重要的因素是安全問題、材料和所需的精度。例如,安全性經(jīng)常被忽視。如果你的工作僅限于30V以下的電子電路,那么測試線的設(shè)計(jì)就不會有安全問題。如果您需要在較高電壓或配電線路附近使用測試線路,您需要使用具有正確標(biāo)識和額定值的測試線路。
測試線使用的材料會影響讀數(shù)。如果您試圖測量極低的電壓(如微伏范圍)或極低的電阻,制造測試線中使用的異種金屬會引入誤差,使其難以跟蹤。不同金屬之間的接觸會起到熱電偶的作用,熱電偶本身會產(chǎn)生電壓。專為低電壓測量設(shè)計(jì)的低熱勢電動勢測試線,可以將測量路徑上微小溫差造成的誤差降到最低。這些測試線稍微貴一些,但是可以提供高精度的電壓和電阻測量,可以達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后6位。
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