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一本可讓讀者進行實際操作的集成電路測試參考書

2021-12-10 14:34:09
無論是前摩爾時代芯片集成度的提升,還是后摩爾時代系統(tǒng)級封裝的趨勢,集成電路測試在整個產(chǎn)業(yè)鏈中的地位越來越重要。設計方案需要全面快速的驗證,人們才能推出符合功能需求的產(chǎn)品。大規(guī)模生產(chǎn)需要高效率,符合質(zhì)量要求的芯片只有經(jīng)過高故障覆蓋率的測試才能到達終端用戶??梢哉f,IC測試是芯片交付應用前的最后一道關(guān)口,是芯片質(zhì)量的保證,其重要性不言而喻。
近年來,我國信息產(chǎn)業(yè)對“食品級”集成電路芯片的需求日益增加,集成電路年進口額超過3000億美元。在這種需求的推動下,國內(nèi)對替代芯片的需求正在蓬勃發(fā)展。隨著整個半導體行業(yè)的快速發(fā)展,對專業(yè)人才的需求也越來越迫切,尤其是芯片測試行業(yè),尤其缺乏經(jīng)驗豐富的工程師。另一方面,大學里有很多基礎(chǔ)學科,比如半導體材料、制造技術(shù)、集成電路設計等。但很少有人聽說過集成電路測試。即使有,也很可能只是IC專業(yè)的選修課。即使對于IC測試從業(yè)者來說,也只有很少的人接受過系統(tǒng)的培訓,很多人拿著測試設備廠商提供的手冊在摸索前進。目前,國內(nèi)關(guān)于集成電路測試的教材大多側(cè)重于理論,如故障覆蓋模型的計算或可測性設計,缺乏對測試工程師和技術(shù)人員將方法與實踐相結(jié)合的指導。
有鑒于此,國內(nèi)SoC測試設備提供商,加速技術(shù)應用工程與產(chǎn)品團隊的小伙伴,希望為ic測試提供一本參考書,讓讀者可以用自己的經(jīng)驗和高性能的SoC測試設備進行實際操作。
《集成電路測試指南》應運而生。本書涵蓋了數(shù)字、模擬和混合信號芯片等主要類型集成電路的測試,將集成電路的測試原理與工程實踐、測試方法和測試設備相結(jié)合。
觀眾
1.想成為或?qū)⒊蔀榧呻娐窚y試工程師的讀者。
2.從事集成電路測試的工程技術(shù)人員。
3.集成電路產(chǎn)品工程師
4.設計工程師
內(nèi)容簡介
本書將半導體集成電路的測試原理與實際測試實施過程相結(jié)合,涵蓋了半導體集成電路的測試過程,集成運算放大器、電源管理芯片、電可擦可編程只讀存儲器芯片、微控制器芯片、數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片等產(chǎn)品的測試原理和測試實例。這本書的特點是理論與實踐相結(jié)合,避免“紙上談兵”。通過學習本書,讀者可以對集成電路測試有一個全面的了解,從而快速進入半導體集成電路測試工程領(lǐng)域。
作者簡介
加速技術(shù)基于FPGA設計、高速通信技術(shù)、高性能數(shù)字信號處理技術(shù)和高精度模擬技術(shù),將相關(guān)技術(shù)應用于半導體測試領(lǐng)域,是行業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的混合信號測試設備提供商。公司推出國內(nèi)首個自主研發(fā)的250Mbps及以上高性能數(shù)?;旌闲盘枩y試系統(tǒng)解決方案,實現(xiàn)了國產(chǎn)替代,將國產(chǎn)數(shù)字測試系統(tǒng)推向新的水平,助力SMIC。加速技術(shù)團隊是一個年輕而充滿激情的團隊,擁有扎實的技術(shù)技能。團隊成員堅持以客戶為導向的原則,以成就客戶為己任,努力在半導體測試領(lǐng)域為中國芯片行業(yè)貢獻力量。
內(nèi)容詳細信息
本書共分五章(共10章)介紹IC測試的概念和知識,重點是芯片驗證和量產(chǎn)。
第一章由第一章和第二章組成,從測試流程和相關(guān)設備入手,試圖給讀者一個IC測試的整體概念。第一章主要介紹集成電路測試程序的分類、流程、測試項目和發(fā)展。在第二章中,我們過渡到“武器”——自動集成電路測試系統(tǒng)的組成架構(gòu),幫助我們完成測試,并全面desc
第二章由第3 ~ 5章組成,主要闡述集成電路自動測試的原理。第三章是DC參數(shù)測試,主要介紹數(shù)字電路DC參數(shù)測試的原理。一些參數(shù)的測試方法也適用于模擬集成電路的參數(shù)測量,如DC偏置、增益、輸出電壓穩(wěn)定性等測試方法。第四章介紹了數(shù)字集成電路測試的各種基礎(chǔ)知識和設置方法,主要包括測試向量、時序和引腳級別。此外,還給出了用功能模式測試開路和短路的方法。第五章以數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換集成電路為基礎(chǔ),嘗試向讀者普及混合信號集成電路測試的相關(guān)概念和方法,包括信號的時域和頻域表示、采樣定理等概念?;旌闲盘柤呻娐窚y試是一種“高級”測試,通常是測試工程師的一個難點。
從第三章到工程實踐部分,本章包括集成運算放大器(第六章)和電源管理芯片(第七章)的測試原理和實現(xiàn)方法。通過本次研究,讀者可以掌握通用模擬芯片的測試方法。
第四章是數(shù)字集成電路的具體實踐。我們選擇了市場上應用需求較大的存儲芯片(第八章)和微控制器芯片(第九章),并向讀者講述了它們的測試項目以及如何使用相關(guān)的測試資源。
最后,通過第五章、第十章,試圖讓讀者了解混合信號測試的實施,為后續(xù)的推進打下堅實的基礎(chǔ)。
本書的主要讀者是想成為或即將成為集成電路測試工程師的讀者。我們假設讀者已經(jīng)學習了相應的基礎(chǔ)課程,主要包括電路分析、模擬電子技術(shù)、數(shù)字電子技術(shù)、信號與系統(tǒng)、數(shù)字信號處理和計算機編程語言。通過學習本書,讀者將對半導體集成電路測試有一個大致的了解,能夠掌握可以直接應用到工作中的實戰(zhàn)技術(shù),從而以“技”入道。本書對從事過集成電路測試的工程技術(shù)人員、集成電路產(chǎn)品工程師和設計工程師也有一定的參考意義。

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